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XPS - Espectrometría de
Fotoelectrones de Rayos X
Kratos Analytical - Leading supplier of ESCA, ToF MS, and X-Ray instruments

 

 

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Espectrómetros de alta performance, desarrollados para investigación y análisis de rutina:

  • Axis NOVA - automatización sin compromisos

  • Axis Ultra - rápido, imagen paralela y una imbatible espectroscopia

  • Axis 165 - instrumento multi-técnica de altísima performance 

  • Axis HS / HSi - tareas de rutina y performance mejorada para investigación

  • AMICUS - XPS versátil y compacto

Aplicaciones (página de Kratos, en inglés)

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Desde hace más de 20 años Kratos, una compañía del grupo Shimadzu, fabrica y comercializa instrumentos XPS de alta performance, también conocidos como "ESCA".

El concepto AXIS está basado en la espectrometría de fotoelectrones utilizando lentes magnéticas. El trabajo pionero de Kratos con lentes magnéticas provocó una revolución en la técnica de análisis por XPS.  Por primera vez, se pudo obtener alta sensibilidad y alta resolución en un dispositivo compacto, brindando una gran capacidad analítica.

Las imágenes XPS forman parte de las configuraciones básicas de los sistemas AXIS y están totalmente integradas con los procedimientos de micro-análisis. El instrumento AXIS HS obtuvo una gran aceptación y popularidad mundial como un sistema simple y de fácil operación, poseyendo a la vez una alta performance analítica.

Desde la introducción de este sistema en el mercado, Kratos amplió y perfeccionó los conceptos de suceso del AXIS, construyendo nuevas generaciones de instrumentos con desempeños cada vez mejores.
El modelo AXIS Ultra, con su analizador de energía de módulo doble, agrega la posibilidad de imágenes en tiempo real simultáneas con el análisis.
 

Cada elemento del sistema AXIS realiza una tarea específica - el analizador hemisférico está dedicado solamente a análisis de energía con alta performance. Con un detector único mapeo y espectroscopia, se hace  necesaria una calibración cruzada.  En el módulo doble Ultra, el analizador de espejo esférico proporciona una imagen rápida y de alta resolución espacial.

El sistema de lentes de todos los espectrómetros proporciona un transporte de electrones con alta eficiencia desde la muestra hasta el analizador; aperturas precisas definen una referencia espacial exacta para el punto de análisis XPS. En espectrómetros de modo único, las imágenes XPS son derivadas del barrido del punto focal de lentes a través de la muestra, lo que brinda la ventaja única de análisis XPS multi-puntos sin necesidad de reposicionamiento de muestras, como en el caso de análisis de electrones Auger.

El sistema de lentes AXIS también posee un neutralizador de carga coaxial integral (patente Kratos), el que explota las propiedades únicas y la geometría de las lentes de inmersión para proporcionar una compensación de cargas casi perfecta en el análisis de polímeros y otros materiales aislantes, así como en el análisis de  superficies irregulares, por ejemplo polvos.


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