PhenomWorld ProX: microscopio electrónico de barrido con detección topográfica y elemental

El microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesada Phenom ProX es un sistema “todo-en-uno” que permite realizar tanto tomas de imágenes como análisis por rayos X, con un voltaje de aceleración de 5 a 15 kV y hasta 130.000 X de aumento.

Objetivo

Destinado a

Examen

Opcional. En caso de aprobación se entregará el Certificado correspondiente. En caso de no rendirlo se entregará Certificado de Asistencia.

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