Thermo Fisher Scientific es un proveedor estadounidense de instrumentación científica, reactivos y consumibles, y servicios de software. Con sede en Waltham, Massachusetts, Thermo Fisher se formó mediante la fusión de Thermo Electron y Fisher Scientific en 2006.
Jenck es representante oficial para su línea de espectrómetros NIR, Raman y los Microscopios electrónicos de barrido (SEM) PhenomWord, entre otros.
Scrap/Chatarra
Analizador XRF portátil
Su diseño compacto y electrónica de altas prestaciones permiten situar la fuente emisora y detector muy cerca de la muestra a medir, mejorando los límites de detección y reduciendo los tiempos de medida,
Analizador XRF portátil
Ya sea para la identificación de metales puros y aleaciones o la detección de elementos extraños, el Niton XL2 Plus dota a los operadores de la capacidad de analizar un gran número de materiales con un único y versátil analizador.
Infrarroja basada en Transformadas de Fourier FTIR, FT-NIR
Analizador FTIR y Raman
Identifica una gran variedad de explosivos y sustancias químicas desconocidas en el campo, con rapidez, seguridad y confiabilidad
Analizador FTIR Portátil
Permiten una rápida identificación, en el lugar, de sustancias químicas desconocidas, incluyendo explosivos, narcóticos, precursores y toxinas industriales, entre otros
FTIR portátil para la identificación de sustancias químicas
Permite identificar explosivos y sustancias peligrosas con rapidez y facilita el muestreo de sustancias sólidas y líquidas en el campo
Infrarroja cercana dispersivo NIR
Espectrómetro NIR para identificación "on site" de materias primas farmacéuticas
Permite la identificación inmediata de materias primas "on site", clasificación de diversos materiales y ensayos de cuantificación, sin preparación ni destrucción muestras
Espectrómetro NIR para identificación "on site" de plásticos y polímeros
Permite monitorear e identificar rápidamente una amplia variedad de polímeros, plásticos y fibras "on site" para agilizar la inspección sin comprometer la exactitud y la calidad
Espectrómetro NIR para identificación "on site" de amianto
Permite monitorear e identificar, en campo y en segundos, los seis tipos regulados de fibra de amianto: crisotilo, crocidolita, antofilita, tremolita, actinolita y amosita
Fluorescencia
Microscopio de correlación óptica y electrónica (CLEM)
Combina un microscopio electrónico de mesada con un microscopio de fluorescencia invertido, simplificando el proceso y acercando la microscopía correlativa a todos los usuarios
Software EID
Permite mapear los elementos previamente seleccionados especificando una resolución de pixeles y definiendo un tiempo de adquisición
Software
Permite generar imágenes tridimensionales y realizar mediciones de rugosidad por debajo del micrón
RAMAN
Analizador Raman portátil para Identificación de Sustancias y Narcóticos
Este analizador Raman de vanguardia redefine los estándares de seguridad y eficiencia en la identificación de sustancias y narcóticos.
Espectrómetro Raman
Identificación rápida de narcóticos y sustancias controladas, incluyendo las principales drogas de abuso, nuevas amenazas (catinonas, etc.) y cannabinoides
Espectrómetro Raman de mano para verificación de materiales
Desarrollado a partir de la tecnología del TruScan RM, con el objetivo de satisfacer múltiples propósitos y proporcionar un flujo de trabajo simplificado
Espectrómetro Raman Portátil
Analizador Raman portátil para identificación de materias primas de última generación
Espectrómetro Raman
Analizador portátil robusto con tecnología Raman de última generación para la identificación rápida y precisa de productos químicos desconocidos
Analizador FTIR y Raman
Identifica una gran variedad de explosivos y sustancias químicas desconocidas en el campo, con rapidez, seguridad y confiabilidad
Espectrómetro Raman
Permite realizar una identificación exacta de sustancias químicas, explosivos y materiales peligrosos en cuestión de segundos, incluso a través de contenedores traslúcidos sellados
Fluorescencia de Rayos X dispersivo en energía EDX
Analizador XRF portátil
El IONIC X™ proporciona una verificación de identidad de materia prima de sal iónica rápida y precisa y un alto rendimiento de la muestra a fabricantes farmacéuticos y biofarmacéuticos.
Analizador XRF portátil
Su diseño compacto y electrónica de altas prestaciones permiten situar la fuente emisora y detector muy cerca de la muestra a medir, mejorando los límites de detección y reduciendo los tiempos de medida,
Analizador XRF portátil
Ya sea para la identificación de metales puros y aleaciones o la detección de elementos extraños, el Niton XL2 Plus dota a los operadores de la capacidad de analizar un gran número de materiales con un único y versátil analizador.
Barrido Electrónico SEM
Microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesada
Su fuente de FEG (termoiónica de larga duración) permite obtener imágenes claras y de alta calidad.
Software para análisis de poros en Microscopio SEM
Permite al usuario recolectar datos sobre la distribución de los poros, el tamaño y la relación de aspecto, con tamaños de 100 nm a 0,1 mm a una velocidad de detección de hasta 1000 poros/minuto
Software para análisis de partículas con un Microscopio SEM
Permite obtener datos sobre la forma y el tamaño de las partículas analizadas en diferentes aplicaciones por debajo de la escala de micrones
Software de adquisición automatizada de imágenes en Microscopios SEM
Desarrollado para que los usuarios puedan extraer el máximo de información a partir de las imágenes tomadas con un microscopio de mesada Phenom
Microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesada
Fuente de electrones de hexaboruro de cerio de larga vida y alto brillo. Crea imágenes de máxima nitidez con un mínimo de intervención del usuario
Microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesada
Permite realizar tanto una toma de imágenes como un análisis por rayos X (opcional) para aplicaciones en la escala submicrónica en muestras de hasta 100 mm x 100 mm
Microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesada
Sistema “todo-en-uno” que permite realizar tanto tomas de imágenes como análisis por rayos X para aplicaciones en la escala submicrónica
Microscopio de correlación óptica y electrónica (CLEM)
Combina un microscopio electrónico de mesada con un microscopio de fluorescencia invertido, simplificando el proceso y acercando la microscopía correlativa a todos los usuarios
Software EID
Permite mapear los elementos previamente seleccionados especificando una resolución de pixeles y definiendo un tiempo de adquisición
Software
Permite generar imágenes tridimensionales y realizar mediciones de rugosidad por debajo del micrón
Portamuestras para Microscopios SEM
Accesorios optimizados para la carga de muestras y la automatización del sistema
Dispersor de polvo para muestras
Garantiza una preparación óptima, evitando la aglomeración en grumos y manteniendo la estructura de las partículas frágiles
Microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesada
Brinda imágenes de alta calidad utilizando características básicas, en el tiempo de carga de muestras y captura de imágenes más rápido del mercado
Software
Permite la observación directa y la medición de microfibras y nanofibras de manera rápida, eficiente y sencilla
Microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesada
Para detección de residuo de disparo de armas de fuego