Análisis XPS compacto y versátil

• Analisis multi-muestra automatizado
• Fácil introducción y remoción de muestra
• Compacto
• Control total desde la computadora
• Capacidad de obtención de perfiles en profundidad.
• Fuente de rayos X de Mg Kα

Incorpora un sistema simple y rápido de introducción de muestras, con un carrusel multi-muestras totalmente automático que permite un amplio rango de aplicaciones, incluyendo operaciones de rutina totalmente desatendidas por operador.

El paquete de software estándar de adquisición y procesamiento de datos XPS es muy amigable y facilita estudios tanto simples como complejos en un modo totalmente automatizado. La capacidad de almacenar y recuperar parámetros de adquisición y procesamiento de datos previamente definidos asegura procedimientos totalmente reproducibles, una importante consideración para ambientes de control de calidad.