AXIS NOVA incorpora la tecnología líder del mercado, AXIS, que incluye compensación coaxial de carga, lente magnética de inmersión e imagen XPS paralela en tiempo real con un nuevo nivel de análisis totalmente automatizado para la más alta productividad.
La óptica ortogonal in-situ proporciona una clara imagen de la superficie de la muestra tanto en la entrada como en la cámara de análisis. Las imágenes XPS paralelas, de alta resolución, indican distribución superficial de elementos y compuestos.
En combinación, ambas técnicas proveen una referencia sin ambigüedades para adquirir análisis espectroscópicos con área de análisis menor que 10µm.