Irradiación por rayos X a través de óptica policapilar que posibilita el análisis en regiones de hasta 50µm, con alta exactitud y sensibilidad.

Análisis de elementos livianos y pesados:

µEDX-1300 = ¹¹Na ~ ⁹²U

µEDX-1200/1400 = ¹³Al ~ ⁹²U (en aire!)

Sistema doble de cámaras CCD (alta y baja ampliación), facilita el posicionamiento y el análisis durante la observación de la superficie de la muestra.

Análisis cuantitativo y análisis de composición y espesor de películas delgadas por el método de parámetros fundamentales (FP) sin usar patrones (incluidos en la configuración básica).

Cinco filtros primarios de cambio automático (incluidos en la configuración básica) eliminan las radiaciones indeseables, mejorando la relación señal/ruido.

Función de mapeo automático de múltiples elementos. Adquisición de imágenes con sistema de barrido ultra-rápido (µEDX 1200 / 1300).

Un detector de transmisión (opcional) permite la medición simultánea de las imágenes de rayos-X transmitidas y fluorescentes.

Detector refrigerado electrónicamente (tipo Peltier) disponible para el modelo µEDX-1400.

Fácil de usar. Es sólo poner la muestra en posición y hacer un click con el mouse.

análisis en la región de soldadura de un circuito impreso	mapeo de componentes en una placa de circuito impreso