Generación 5

El microscopio electrónico de barrido (SEM) Phenom ProX se basa en la plataforma SEM de mesada de 5ª generación de Phenom y es un SEM de alto rendimiento para imágenes y análisis. Con el Phenom ProX, las estructuras de las muestras se pueden examinar físicamente y determinar su composición elemental. Además del análisis de puntos, el software opcional de mapeo elemental permite un análisis más detallado de la distribución de los elementos.

Los microscopios Phenom SEM son intuitivos para usar y rápidos para entregar resultados y construidos con estándares de alta calidad. En comparación con sus predecesores, el Generation 5 Phenom ProX tiene una resolución al menos un 20% mejor y cubre una gama más amplia de aplicaciones, incluyendo muestras que son muy sensibles al daño del haz.

El Phenom ProX, microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesada, es un sistema “todo-en-uno” que permite realizar tanto tomas de imágenes como análisis por rayos X.

Con este poderoso instrumento, se puede examinar físicamente la estructura de la muestra y determinar su composición elemental.

Más allá del análisis puntal, el programa opcional de mapeo y barrido lineal elemental permite un mejor análisis de la distribución de los elementos dentro de la muestra.