El nuevo microscopio de sonda de barrido de alta resolución (HR-SPM) utiliza detección de frecuencias. El instrumento no sólo permite realizar observaciones de resolución ultra elevada en aire o líquidos, sino que por primera vez hace lo propio con capas de hidratación/solvatación en interfaces sólido-líquido.

Características

• Utiliza el método FM-AFM (microscopia de fuerza atómica con modulación de frecuencia).
• Reduce el ruido en aire y líquidos a 1/20 con respecto a los métodos existentes.
• Alcanza niveles de desempeño propios de SPMs de vacío, incluso en aire y líquidos.

Los microscopios de sonda de barrido y de fuerza atómica existentes generalmente utilizan modulación de amplitud (AM). No obstante, el método de medición por modulación de frecuencia (FM) es capaz de lograr una resolución más elevada.

Diferencias con SPM/AFM existentes

Se realizaron observaciones de la disposición de átomos en una superficie de NaCl en una solución acuosa saturada. Los átomos ocultos por el ruido en las observaciones con los AFM convencionales (método AM, izq.), son claramente visibles cuando se utiliza el método FM (der.). El método FM proporciona una real resolución atómica.

Observación de partículas de catalizador de Pt en aire

Se identificaron partículas de catalizador de Pt en un sustrato de TiO2, y se midió el potencial superficial con un microscopio de fuerza de Kelvin (KPFM). Se observaron partículas de Pt de varios nm de tamaño en el intercambio de cargas con el sustrato. En la figura de la derecha los círculos rojos indican potencial positivo, y los azules potencial negativo. Es evidente que la resolución ha mejorado drásticamente, aún para un KPFM.