Estándar: Contacto Dinámico, Por Fase, Fuerza lateral (LFM) y Modulación de fuerza
Opcional: Fuerza magnética (MFM), Corriente Potential (KFM) y Potencial de superficie (KFM)
Resolución
X, Y: 0,2 nm
Z: 0,01 nm
Cabezal
Sistema de detección de desplazamiento: Lumínico - Detector por fuente de luz
Fuente de luz: Diodo láser y soporte irradiado continuamente incluso en el reemplazo de muestras
Detector: Fotodetector
Scanner
Elemento de conducción: Tubo de elemento piezoeléctrico
Rango máximo de barrido (X, Y, Z): 30 µm x 30 µm x 5 µm (estándar), 125 µm x 125 µm x 7 µm (opcional), 55 µm x 55 µm x 13 µm (opcional) y 2,5 µm x 2,5 µm x 0,3 µm (opcional)
Soporte de muestra
Tamaño de muestra (máx.): 24 mm (diám.) x 8 mm
Método de reemplazo de muestras: Cabezal y soporte de muestra con sistema de detección de desplazamiento integrado. Las muestras pueden ser reemplazadas sin remover el soporte.
Modo de fijación de muestras: Mediante soportes magnéticos
Mecanismo de ajuste del eje Z (Macro)
Método: Automático, por motor de avance, independiente del espesor de la muestra
Desplazamiento máximo: 10 mm
Panel de visualización
Cantidad visualizada: La cantidad absoluta que incide en el detector
Amortiguador de vibraciones
Base anti-vibración: Incorporada a la unidad SPM
Observación por microscopía óptica
Método: Mecanismo incorporado de división de haz para método óptico
Entorno de muestra
Método: No específico o con cámara controlada
Control del ambiente
Método: La cámara para el control del ambiente de la muestra puede incorporarse sin modificar el equipo