Principales ventajas

• Análisis cualitativo y cuantitativo utilizando rayos X de órdenes superiores lo que otorga mayor sensibilidad. En la figura se observan los perfiles usando rayos X de primer orden (línea azul) y de orden superior (línea roja).

• Medición de espesor de películas delgadas y análisis de compuestos inorgánicos en películas de alto polímero usando el método de parámetros fundamentales (FP) con corrección de ruido (patentado).

• Tubo de rayos X de 4kW y ventana delgada, de mayor confiabilidad y vida útil. Comparado con el tubo convencional de 3kW, la sensibilidad es el doble para elementos livianos.

• Sistema de carga de muestra tipo pendular

• Barrido ultra-rápido (300°/min) que posibilita análisis cualitativo y semi-cuantitativo rápidos y sencillos.

• Facilidad de uso a través de plantillas con métodos pre-definidos basados en la larga experiencia de Shimadzu en XRF. Se pueden crear sencillamente las condiciones óptimas para todo tipo de muestras líquidas, en polvo, etc.