Todos los productos desarrollados por Phenom-World son fáciles de utilizar, rápidos para arrojar resultados, y diseñados según estándares de la más alta calidad. Sobre estos principios se ha basado el desarrollo y la creación del sistema de espectroscopía Phenom ProX, el mejor en su clase para la toma de imágenes y el análisis por rayos X.
Además de visualizar imágenes tridimensionales de estructuras microscópicas, a menudo se necesita identificar los diferentes elementos químicos presentes en una muestra o espécimen. En el mundo del Phenom ProX, esto se logra por medio de un paquete de software para la identificación de elementos (EID) y un espectrómetro dispersivo en energía (Energy Dispersive Spectrometer, EDS) especialmente diseñado y totalmente integrado.
El Phenom ProX es la mejor solución para completar tomas de imágenes y análisis por rayos X de manera fácil y rápida. Esto se refuerza con un portamuestra adicional que permite enfriar e inclinar la muestra y así permitir el análisis por imágenes de una mayor diversidad de muestras.
Para controlar el detector EDS integrado en el sistema, en la PC Pro Suite viene incluido e instalado un paquete de software específico. De este modo, el análisis resulta tan sencillo como la toma de imágenes, ya que no se necesita alternar entre paquetes de software externos o entre computadoras. La técnica EDS analiza los rayos X generados por los electrones del rayo al interactuar con la muestra. La fuente de electrones Phenom CeB6 genera la mayor cantidad de rayos X en el segmento de mercado.
Mediante el modo de análisis puntual, el paquete de software permite identificar cualquier elemento escondido en la muestra. Todos los resultados son verificados utilizando una deconvolución extractiva iterativa del pico. El proceso guiado paso a paso en el software ayuda a obtener todos los resultados de rayos X de forma organizada y estructurada. Además, el software puede ser expandido con la opción de mapeo elemental y barrido lineal.
El mapeo de elementos revela la distribución de elementos dentro de la muestra. Para ello, el usuario puede seleccionar los elementos, la resolución de píxel y el tiempo de recolección. Un algoritmo de mapeo en tiempo real va mostrando el crecimiento de los mapas de los elementos seleccionados, y almacenando a la vez los espectros de cada píxel. Esto permite agregar o quitar elementos en cualquier momento, durante el proceso de mapeo o después. La posibilidad de mezclar cualquier número de elementos con la imagen óptica le permite al usuario ver claramente la distribución de elementos dentro de la muestra.
El mapeo puede realizarse tanto en la imagen completa como en un área seleccionada (SA). Se puede seleccionar cualquier área rectangular de la imagen.
El barrido lineal permite realizar el análisis barriendo una línea fácilmente seleccionable por el usuario. El número de puntos y el tiempo dedicado a cada uno de ellos se pueden seleccionar en forma individual. En pantalla se muestra el perfil lineal de todos los elementos seleccionados, y los resultados son fácilmente informados y exportables a través de plantillas automáticas. Así se puede realizar una larga secuencia de múltiples análisis sin necesidad de la intervención del usuario.